目標(biāo)檢測(cè)是一種計(jì)算機(jī)視覺(jué)技術(shù)，旨在檢測(cè)汽車、建筑物和人類等目標(biāo)．這些目標(biāo)通常可以通過(guò)圖象或視頻來(lái)識(shí)別．在常規(guī)的目標(biāo)檢測(cè)任務(wù)中，如圖1，一般使用邊同軸平行的矩形框進(jìn)行標(biāo)示．
在平面直角坐標(biāo)系xOy中，針對(duì)目標(biāo)圖形G，可以用其投影矩形來(lái)檢測(cè)．圖形G的投影矩形定義如下：矩形的兩組對(duì)邊分別平行于x軸，y軸，圖形G的頂點(diǎn)在矩形的邊上或內(nèi)部，且矩形的面積最?。O(shè)矩形的較長(zhǎng)的邊與較短的邊的比為k,我們稱常數(shù)k為圖形G的投影比．如圖2，矩形ABCD為ODEP的投影矩形，其投影比k=BCAB．
（1）如圖3，點(diǎn)A（1，3），B（3，5），則△OAB投影比k的值為 5353；
（2）如圖4，若點(diǎn)M（-1，0），點(diǎn)N（2，1）且△MNP投影比k=2，則點(diǎn)P的坐標(biāo)可能是 ①①（填寫(xiě)序號(hào)）；
①（1，-5）；②（0，2）；③（-3，5）；④（4，-1）．
（3）如圖5，已知點(diǎn)C（6，0），在函數(shù)y=2x-6（其中x＜3）的圖象上有一點(diǎn)D，若△OCD的投影比k=43，求點(diǎn)D的坐標(biāo)．
BC
AB
5
3
5
3
4
3
【考點(diǎn)】一次函數(shù)綜合題．
【答案】；①
5
3
【解答】
【點(diǎn)評(píng)】
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發(fā)布：2025/6/4 20:0:1組卷：715引用：2難度：0.3
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1．如圖，在平面直角坐標(biāo)系xOy中，點(diǎn)A（0，8），點(diǎn)B（6，8）．
（1）只用直尺（沒(méi)有刻度）和圓規(guī)，求作一個(gè)點(diǎn)P，使點(diǎn)P同時(shí)滿足下列兩個(gè)條件（要求保留作圖痕跡，不必寫(xiě)出作法）：
①點(diǎn)P到A、B兩點(diǎn)的距離相等；
②點(diǎn)P到∠x(chóng)Oy的兩邊距離相等．
（2）在（1）作出點(diǎn)P后，直接寫(xiě)出直線PA的解析式．發(fā)布：2025/6/24 17:0:1組卷：98引用：3難度：0.1 -
2．如圖，一次函數(shù)的圖象分別與x軸、y軸交于點(diǎn)A、B，以線段AB為邊在第一象限內(nèi)作等腰Rt△ABC，∠BAC=90°．求過(guò)B、C兩點(diǎn)直線的解析式．y=-23x+2發(fā)布：2025/6/24 15:30:2組卷：2570引用：11難度：0.5 -
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