在做物理實(shí)驗(yàn)時(shí)，經(jīng)常需要進(jìn)行反復(fù)多次實(shí)驗(yàn)，其中有些是為了減小誤差，有些是為了尋找普遍規(guī)律。下面實(shí)驗(yàn)中是為了尋找普遍規(guī)律的是（ ?。?br />①“用刻度尺測(cè)量同一物體長度“時(shí)，多次測(cè)量
②“研究光的反射規(guī)律“時(shí)，多次改變?nèi)肷浣堑拇笮?br />③“探究聲音的產(chǎn)生條件”時(shí)，換用不同聲源，觀察聲源振動(dòng)情況
④“探究平面鏡成像特點(diǎn)”時(shí)，多次改變點(diǎn)燃的蠟燭到玻璃板的距離
【考點(diǎn)】多次測(cè)量 普遍性．
【答案】C
【解答】
【點(diǎn)評(píng)】
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發(fā)布：2024/11/22 6:0:1組卷：39引用：5難度：0.6
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1．多次實(shí)驗(yàn)是科學(xué)研究中常見的做法，但目的略有不同。在“伏安法”測(cè)電阻實(shí)驗(yàn)中就需要用到多次實(shí)驗(yàn)。下列四個(gè)實(shí)驗(yàn)中，多次實(shí)驗(yàn)?zāi)康呐c“伏安法”測(cè)電阻相同的是（ ?。?/h2>
發(fā)布：2024/7/25 8:0:9組卷：4引用：0難度：0.8 -
2．以下探究中多次實(shí)驗(yàn)的目的與其它三個(gè)明顯不同的是（ ?。?/h2>
發(fā)布：2024/9/15 3:0:8組卷：9引用：1難度：0.8 -
3．在物理實(shí)驗(yàn)中，對(duì)物理量進(jìn)行多次測(cè)量，有的是為了通過多次測(cè)量減小誤差，有的是為了通過多次測(cè)量尋找規(guī)律。下面四個(gè)實(shí)驗(yàn)中，哪個(gè)是通過多次測(cè)量減小誤差的（ ?。?/h2>
發(fā)布：2024/10/16 13:0:2組卷：5引用：2難度：0.7